for Observation and Analysis観察装置群
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡 JEM-1000K RS
- 特徴
- 反応ガス環境におけるその場観察
- 電子状態の分析
- 厚い試料の観察
- 電子線トモグラフィー
- EELS搭載
ラット腎臓由来の培養細胞の染色体 立体構築像 
STEM EELS mapping 多変量解析によりスペクトルから各成分のピークを分離し、成分ごとにマッピング 
SiCの原子レベルの高分解能観察 
酸素・加熱雰囲気におけるスズ微粒子の酸化過程
| 電子銃 | 熱電子放出LaB6 |
|---|---|
| TEM点分解能 | 0.145nm |
| STEM機能 プローブ径 |
有 1.0nm |
| 分析用検出器 | EELS |
| 試料ホルダー | スタンダード(一軸)、二軸傾斜、加熱(一軸・二軸・ワイヤー)、冷却(Liq.N2・Liq.He)、360°軸回転、360°皿回転 ナノインデンター |
高電圧用収差補正開発試験装置
EM-10000BU
- 特徴
- 熟練者向け高分解能観察・分析装置
- EDS、EELS搭載
金微粒子の高分解能観察 
グラフェン六員環構造の原子レベルの高分解能観察
| 電子銃 | 電界放出加熱陰極 |
|---|---|
| TEM点分解能 | 0.11nm |
| STEM機能 プローブ径 |
有 <70pm |
| 分析用検出器 | EDS、EELS |
| 試料ホルダー | スタンダード（一軸傾斜）、EDS用一軸傾斜、二軸傾斜、EDS用二軸傾斜、加熱二軸傾斜 |
透過電子顕微鏡システム
JEM-2100plus
- 特徴
- 初心者向け汎用観察・分析装置
- EDS搭載
シリコン［111］電子回折図形 
ステンレス中の転位 ステレオ像
| 電子銃 | 熱電子放出LaB6 |
|---|---|
| TEM点分解能 | 0.25nm |
| STEM機能 プローブ径 |
有 <3nm |
| 分析用検出器 | EDS |
| 試料ホルダー | スタンダード（一軸傾斜）、EDS用一軸傾斜、EDS用二軸傾斜、加熱二軸傾斜、3連一軸傾斜 |
高速加工観察分析装置システム
MI4000L
- 特徴
- EDS、EBSD搭載
| 電子銃 | 電界放出加熱陰極＋Gaイオン銃 |
|---|---|
| TEM点分解能 | 1.1 nm(SEM像) 0.8 nm(STEM像) 4.0 nm(SIM像) |
| STEM機能 プローブ径 |
有 <3nm |
| 分析用検出器 | EDS、EBSD |
| 試料ホルダー | SEM/FIB対応ホルダ、FIB対向専用ホルダ、45度傾斜ホルダ、TEMメッシュホルダ、ニードルホルダ |
高分解能透過型電子顕微鏡システム
JEM-2100F HK
- 特徴
- 上級者向け高分解能観察・分析装置
- EDS搭載
| 電子銃 | 電界放出加熱陰極 |
|---|---|
| TEM点分解能 | 0.23nm |
| STEM機能 プローブ径 |
有 1.0nm |
| 分析用検出器 | EDS |
| 試料ホルダー | スタンダード（一軸傾斜）、EDS用一軸傾斜、二軸傾斜、EDS用二軸傾斜、加熱二軸傾斜 |
収差補正電子顕微鏡
JEM-ARM 200F Cold
- 特徴
- 熟練者向け高分解能観察・分析装置
- EDS、EELS搭載
| 電子銃 | 電界放出冷陰極 |
|---|---|
| TEM点分解能 | 0.19nm |
| STEM機能 プローブ径 |
有 <60pm |
| 分析用検出器 | EDS、EELS |
| 試料ホルダー | スタンダード(一軸)、二軸傾斜、EDS用二軸傾斜 |
走査電子顕微鏡
JSM-6610 A
- 特徴
- 初心者向け汎用観察・分析装置
- EDS搭載
| 電子銃 | 熱電子放出W |
|---|---|
| TEM点分解能 | <50.0nm(SEM像) |
| STEM機能 プローブ径 |
無 |
| 分析用検出器 | EDS |
| 試料ホルダー | スタンダード、断面観察用 |
バイオ/無機材料用高速FIB-SEMシステム ETHOS NX5000
- 特徴
- 初心者〜上級者〜熟練者向け加工・観察・分析装置
For Fablication試料加工装置群
集束イオンビーム加工装置 JEM-9320FIB
- 特徴
- 初心者向け加工装置
- 電子線描画機能付
集束イオンビーム加工装置 FB-2100
- 特徴
- 初心者向け加工装置
- 装置内マイクロサンプリング機能付
高速加工観察分析装置システム MI4000L
- 特徴
- 上級者向け加工・観察・分析装置
- 装置内マイクロサンプリング機能付
イオンミリング用装置群
TEM観察用の、断面イオンミリング試料や平面イオンミリング試料の作製装置
電解研磨装置 エコポール
金属や合金試料を、電解研磨によりTEM観察用に加工する装置
ダイヤモンドワイヤーソー
バルクから、ミクロンサイズの切片の切り出し
バイオ/無機材料用高速FIB-SEMシステム ETHOS NX5000
- 特徴
- 初心者〜上級者〜熟練者向け加工・観察・分析装置
For Data Analysis解析ソフト群
Avizo Fire版
3D構築ソフト
マルチスライス像から三次元像の再構築
Composer & Visualizer-Kai
3D構築ソフト
連続傾斜TEM像から三次元像の再構築
MacTempus/CrystalKit
高分解能TEM像 シミュレーション解析ソフト
TEM像のシミュレーションや結晶構造編集