観察装置群
for Observation and Analysis

 
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡 JEM-1000K RS

反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡
JEM-1000K RS

  • 反応ガス環境におけるその場観察
  • 電子状態の分析
  • 厚い試料の観察
  • 電子線トモグラフィー
  • EELS搭載
ラット腎臓由来の培養細胞の染色体 立体構築像
酸素・加熱雰囲気におけるスズ微粒子の酸化過程
SiCの原子レベルの高分解能観察
STEM EELS mapping 多変量解析によりスペクトルから各成分のピークを分離し、成分ごとにマッピング
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高電圧用収差補正開発試験装置 EM-10000BU

高電圧用収差補正開発試験装置 EM-10000BU

  • 熟練者向け高分解能観察・分析装置
  • EDS、EELS搭載
金微粒子の高分解能観察
グラフェン六員環構造の原子レベルの高分解能観察
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汎用電子顕微鏡 H-800

汎用電子顕微鏡 H-800

  • 初心者向け汎用観察・分析装置
  • EDS搭載
シリコン[111]電子回折図形
ステンレス中の転位 ステレオ像
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汎用電子顕微鏡 H-800

高速加工観察分析装置システム MI4000L

  • EDS、EBSD搭載
鉄系材料の3次元IPFマッピング
 
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高分解能透過型電子顕微鏡システム
JEM-2100F HK

  • 上級者向け高分解能観察・分析装置
  • EDS搭載

収差補正電子顕微鏡
JEM-ARM 200F Cold

  • 熟練者向け高分解能観察・分析装置
  • EDS、EELS搭載

走査電子顕微鏡
JSM-6610 A

  • 初心者向け汎用観察・分析装置
  • EDS搭載

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試料加工装置群
For Fablication

 

集束イオンビーム加工装置
JEM-9320FIB

  • 初心者向け加工装置
  • 電子線描画機能付

集束イオンビーム加工装置
FB-2100

  • 初心者向け加工装置
  • 装置内マイクロサンプリング機能付

高速加工観察分析装置システム
MI4000L

  • 上級者向け加工・観察・分析装置
  • 装置内マイクロサンプリング機能付



イオンミリング用装置群

TEM観察用の、断面イオンミリング試料や平面イオンミリング試料の作製装置

電解研磨装置 エコポール

金属や合金試料を、電解研磨によりTEM観察用に加工する装置

ダイヤモンドワイヤーソー

バルクから、ミクロンサイズの切片の切り出し

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解析ソフト群
For Data Analysis

 

3D構築ソフト Avizo Fire版
 

マルチスライス像から三次元像の再構築

3D構築ソフト
Composer & Visualizer-Kai

連続傾斜TEM像から三次元像の再構築

高分解能TEM像シミュレーション解析ソフト
MacTempus/CrystalKit

TEM像のシミュレーションや結晶構造編集

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